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unige:4217 
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Die Admittanz mesoskopischer Leiter |
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| Authors | ||
| Published in | Physik in unserer Zeit. 1998, vol. 29, no. 4, p. 168-173 | |
| Abstract | Elektrische Strukturen im Submikrometerbereich haben bei tiefen Temperaturen Eigenschaften, die sich stark von denen makroskopischer Leiter unterscheiden. Auch elektrotechnische Größen wie Widerstand, Kapazität und Induktivität von elektronischen Nanometer-Bauelementen werden durch Quanteneigenschaften verändert. | |
| Identifiers | ||
| Full text |
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| Structures | ||
| Citation (ISO format) | CHRISTEN, Thomas, BUTTIKER, Markus. Die Admittanz mesoskopischer Leiter. In: Physik in unserer Zeit, 1998, vol. 29, n° 4, p. 168-173. doi: 10.1002/piuz.19980290406 https://archive-ouverte.unige.ch/unige:4217 |
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