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Scientific article
German

Die Admittanz mesoskopischer Leiter

Published inPhysik in unserer Zeit, vol. 29, no. 4, p. 168-173
Publication date1998
Abstract

Elektrische Strukturen im Submikrometerbereich haben bei tiefen Temperaturen Eigenschaften, die sich stark von denen makroskopischer Leiter unterscheiden. Auch elektrotechnische Größen wie Widerstand, Kapazität und Induktivität von elektronischen Nanometer-Bauelementen werden durch Quanteneigenschaften verändert.

Citation (ISO format)
CHRISTEN, Thomas, BUTTIKER, Markus. Die Admittanz mesoskopischer Leiter. In: Physik in unserer Zeit, 1998, vol. 29, n° 4, p. 168–173. doi: 10.1002/piuz.19980290406
Identifiers
ISSN of the journal0031-9252
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Technical informations

Creation11/30/2009 3:07:25 PM
First validation11/30/2009 3:07:25 PM
Update time03/14/2023 3:18:04 PM
Status update03/14/2023 3:18:04 PM
Last indexation01/15/2024 7:15:06 PM
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