Ce travail porte sur l'étude de l'évolution des propriétés physiques de matériaux ferroélectriques lorsque la taille de ces matériaux est réduite à l'échelle nanométrique. Cette étude représente un défi sur le plan expérimental puisque des films ultraminces de haute qualité cristalline sont nécessaires ainsi que des techniques adaptées à l'étude des propriétés physiques à cette échelle. C'est également un défi sur le plan théorique puisque des phénomènes nouveaux sont attendus à cette échelle et doivent être correctement interprétés. La tétragonalité de films minces de PbTiO3 a été mesurée par diffraction aux rayons x et aux photoélectrons. Sa diminution observée lorsque l'épaisseur des films est réduite, liée à une diminution de la polarisation, a permis de démontrer le rôle déterminant joué par l'écrantage imparfait de la polarisation ferroélectrique, responsable de l'apparition d'un champ dépolarisant et de la réduction de la polarisation dans les films très minces.