Scientific article
French

Étude par résonance paramagnétique électronique des radicaux piégés dans un monocristal de diméthylarsinate de sodium irradié aux rayons X

Other titleESR study of radiation damage in a single crystal of sodium dimethyl arsonate
Published inHelvetica chimica acta, vol. 62, no. 5, p. 1605-1613
Publication date2004-10-25
First online date2004-10-25
Abstract

L'irradiation aux rayons X, à 77 K, d'un monocristal de diméthylarsinate de sodium provoque le piégeage de CH3(O)As(O-)CH2 et de (CH3)2AsO2. En fonction de la température ces radicaux se réorientent ou donnent naissance à de nouvelles espèces radicalaires. Les tenseurs g et de couplage hyperfin avec 75As ont été déterminés à 105 K, 165 K, 215 K et 295 K et permettent de proposer une identification de plusieurs espèces radicalaires localisées sur l'atome d'arsenic. Le rôle de la température d'irradiation et l'influence de l'oxygène sur la réactivité des radicaux piégés dans le cristal sont également étudiés.

Citation (ISO format)
GEOFFROY, Michel, LLINARES, Antoine. Étude par résonance paramagnétique électronique des radicaux piégés dans un monocristal de diméthylarsinate de sodium irradié aux rayons X. In: Helvetica chimica acta, 2004, vol. 62, n° 5, p. 1605–1613. doi: 10.1002/hlca.19790620526
Main files (1)
Article (Published version)
accessLevelRestricted
Identifiers
Journal ISSN0018-019X
54views
0downloads

Technical informations

Creation20/08/2024 14:50:43
First validation23/08/2024 13:27:27
Update23/08/2024 13:27:27
Status update23/08/2024 13:27:27
Last indexation01/11/2024 10:47:45
All rights reserved by Archive ouverte UNIGE and the University of GenevaunigeBlack