UNIGE document Doctoral Thesis
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Title

Growing up at the nanoscale: studies of ferroelectric domain wall functionalities, roughening, and dynamic properties by atomic force microscopy

Author
Directors
Defense Thèse de doctorat : Univ. Genève, 2013 - Sc. 4580 - 2013/07/04
Abstract Les matériaux ferroélectriques sont caractérisés par une polarisation électrique réversible. Les interfaces séparant deux domaines ferroélectriques, appelées parois de domaines, possèdent des propriétés spécifiques en raison de la brisure locale de symétrie et de l'accumulation de défauts, et ce à l'échelle nanométrique. Cette thèse présente plusieurs de ces propriétés, mesurées par microscopie à force atomique sur des ferroélectriques en couches minces. En premier lieu, il est démontré que la brisure de symétrie modifie les propriétés piézoélectriques aux parois. Puis il est démontré que, bien que le ferroélectrique soit isolant, les parois autorisent le transport de courant électrique via l'accumulation de lacunes d'oxygène. La seconde partie de cette thèse porte sur les propriétés statiques et dynamiques des parois dans le cadre théorique d'interfaces élastiques désordonnées. Il est observé que leur rugosité ainsi que leur réponse dynamique suivent des lois d'échelles doublement influencées par la nature du désordre et les conditions environnementales.
Keywords FerroelectricsDomain WallsAtomic Force MicroscopyInterfaces
Identifiers
URN: urn:nbn:ch:unige-315267
Full text
Thesis (20.1 MB) - public document Free access
Structures
Research groups Groupe Paruch
Groupe Triscone
Citation
(ISO format)
GUYONNET, Jill. Growing up at the nanoscale: studies of ferroelectric domain wall functionalities, roughening, and dynamic properties by atomic force microscopy. Université de Genève. Thèse, 2013. https://archive-ouverte.unige.ch/unige:31526

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Deposited on : 2013-12-02

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